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  1. 紀要(神奈川工科大学研究報告)
  2. B 理工学編
  3. 第31号-第40号(2006年度-2015年度)
  4. 第40号

RFマグネトロンスパッタ法によるAZO透明導電膜の結晶性に及ぼす基板温度の影響--材料分析室利用研究成果、そのXXVI (4)--

https://doi.org/10.34411/00001139
https://doi.org/10.34411/00001139
aec79848-beb6-456b-85cf-34ded96927e5
名前 / ファイル ライセンス アクション
kkb-040-012.pdf kkb-040-012.pdf (804.6 kB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2020-11-24
タイトル
タイトル RFマグネトロンスパッタ法によるAZO透明導電膜の結晶性に及ぼす基板温度の影響--材料分析室利用研究成果、そのXXVI (4)--
言語 ja
タイトル
タイトル Effect of substrate temperature on the crystalline of transparent conducting AZO thin films by RF magnetron sputtering -- Research works accomplished by using materials analysis facilities: XXVI (4)--
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 AZO thin films
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 transparent conducting films
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 substrate temperature
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 RF magnetron sputtering
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 XRD
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
ID登録
ID登録 10.34411/00001139
ID登録タイプ JaLC
著者 後藤, みき

× 後藤, みき

ja 後藤, みき

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小松, 茂禎

× 小松, 茂禎

ja 小松, 茂禎

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御園生, 誠

× 御園生, 誠

ja 御園生, 誠

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Goto, Miki

× Goto, Miki

en Goto, Miki

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Komatsu, Shigeyoshi

× Komatsu, Shigeyoshi

en Komatsu, Shigeyoshi

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Misonoo, Makoto

× Misonoo, Makoto

en Misonoo, Makoto

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 We have studied the effect of the substrate temperature on the crystalline structure, optical and electrical properties of AZO films. The AZO thin films have been fabricated by RF magnetron sputtering technique with various substrate temperatures of growth parameters. The target was AZO (Al2O3, 2wt% in ZnO). The resistivity, transmittance and crystal orientation of these films were investigated as a function of various substrate temperatures. As a result, a minimum resistivity of 2×10-4 Ωcm and an average transmittance of about 80% in the visible range were obtained for the films deposited at sputtering gas Ar : pressure of 2 Pa, flow rate of 5 sccm, and substrate temperature of 400 ℃. The crystalline structure of the films was confirmed by X-ray diffraction (XRD) analysis. The obtained films had a hexagonal wurtzite structure with a strong (002) preferred orientation.
言語 en
書誌情報 神奈川工科大学研究報告.B,理工学編

巻 40, p. 61-63, 発行日 2016-03-20
出版者
出版者 神奈川工科大学
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 21882878
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA12669200
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-05-15 15:02:05.899073
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