WEKO3
アイテム
High Sensitivity Technique in Contactless Measurement of Silicon Wafer Carrier Lifetimes
https://doi.org/10.34411/00000392
https://doi.org/10.34411/00000392be7d0fca-6f8c-4300-9ac1-ee3d2c37b024
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
kkb-006-011.pdf (1.2 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||
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| 公開日 | 2020-11-24 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | High Sensitivity Technique in Contactless Measurement of Silicon Wafer Carrier Lifetimes | |||||||
| 言語 | en | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | 電気電子工学 | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||
| ID登録 | ||||||||
| ID登録 | 10.34411/00000392 | |||||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||||
| 著者 |
Ogita, Yoh-ichiro
× Ogita, Yoh-ichiro
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| 書誌情報 |
幾徳工業大学研究報告.B,理工学編 巻 6, p. 105-109, 発行日 1982-03-20 |
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| 出版者 | ||||||||
| 出版者 | 神奈川工科大学 | |||||||
| ISSN | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||
| 収録物識別子 | 03861163 | |||||||
| フォーマット | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||||
| 著者版フラグ | ||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||
