WEKO3
アイテム
分析電子顕微鏡システム利用研究成果,そのIV
https://doi.org/10.34411/00000666
https://doi.org/10.34411/000006667fcb2daf-a979-46d1-8686-fbbfc7f6dd5b
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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kkb-017-030.pdf (5.5 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2020-11-24 | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | 分析電子顕微鏡システム利用研究成果,そのIV | |||||||||
| 言語 | ja | |||||||||
| タイトル | ||||||||||
| タイトル | Resarch Works Accomplished by Using the Electron Microscope System : IV | |||||||||
| 言語 | en | |||||||||
| 言語 | ||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||
| ID登録 | ||||||||||
| ID登録 | 10.34411/00000666 | |||||||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||||||
| 著者 |
分析電子顕微鏡システム運営委員会
× 分析電子顕微鏡システム運営委員会
× Committee, of Electron Microscope System
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| 内容記述 | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | 材料工学 | |||||||||
| 書誌情報 |
神奈川工科大学研究報告.B,理工学編 巻 17, p. 293-309, 発行日 1993-03-20 |
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| 出版者 | ||||||||||
| 出版者 | 神奈川工科大学 | |||||||||
| ISSN | ||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||
| 収録物識別子 | 09161902 | |||||||||
| フォーマット | ||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||
