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  1. 紀要(神奈川工科大学研究報告)
  2. B 理工学編
  3. 第21号-第30号(1996年度-2005年度)
  4. 第22号

分析電子顕微鏡システム利用研究成果,そのVIII

https://doi.org/10.34411/00000807
https://doi.org/10.34411/00000807
31e13021-922c-4e5f-92ee-2968a8e9644f
名前 / ファイル ライセンス アクション
kkb-022-026.pdf kkb-022-026.pdf (5.1 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2020-11-24
タイトル
タイトル 分析電子顕微鏡システム利用研究成果,そのVIII
言語 ja
タイトル
タイトル Resarch Works Accomplished by Using the Electron Microscope System : VIII
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 electrical resistivity of Cu-13at%Pd, blend, cadmium selenide, polyaniline,\ndilatometry
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
ID登録
ID登録 10.34411/00000807
ID登録タイプ JaLC
著者 分析電子顕微鏡システム運営委員会

× 分析電子顕微鏡システム運営委員会

ja 分析電子顕微鏡システム運営委員会

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Committee, of Electron Microscope System

× Committee, of Electron Microscope System

en Committee, of Electron Microscope System

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Some of the works that have been performed with the electron microscope system
during the period from spring 1996to spring 1997 are presented. They include: !)increase
in electrical resistivity during ordering in thermally disordered Cu-13at%Pd alloy,2) blend of
poly(vinylidene fluoride) (PVDF) and poly(methyl methacrylate) (PMMA),3) low-temperature
preparation of CdSe thin film by chemical bath deposition, 4) morphology and electronic
states of electrochemically synthesized polyaniline, and 5) crystallization and gelation of
poly(vinylidene fluoride) in organic solvent.
言語 en
書誌情報 神奈川工科大学研究報告.B,理工学編

巻 22, p. 165-175, 発行日 1998-03-20
出版者
出版者 神奈川工科大学
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 09161902
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN10074179
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-05-15 15:07:34.575091
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