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  1. 紀要(神奈川工科大学研究報告)
  2. B 理工学編
  3. 第21号-第30号(1996年度-2005年度)
  4. 第22号

青色レーザ/マイクロ波光導電を用いたシリコンウェーハ表面層の評価

https://doi.org/10.34411/00000804
https://doi.org/10.34411/00000804
60904284-903f-4146-b499-a034e6bfc0a1
名前 / ファイル ライセンス アクション
kkb-022-012.pdf kkb-022-012.pdf (1.8 MB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2020-11-24
タイトル
タイトル 青色レーザ/マイクロ波光導電を用いたシリコンウェーハ表面層の評価
言語 ja
タイトル
タイトル Subsurface Characterization of Silicon Wafers with Blue Laster/Microwave Photoconductivity Transient
言語 en
言語
言語 jpn
キーワード
言語 en
主題Scheme Other
主題 PPCA signal,S ubsurface property,S ubsurface damage,P hotoconductivity,Mi rror\npolishing, Si wafer
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
ID登録
ID登録 10.34411/00000804
ID登録タイプ JaLC
著者 澤登, 剛

× 澤登, 剛

ja 澤登, 剛

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荻田, 陽一郎

× 荻田, 陽一郎

ja 荻田, 陽一郎

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Sawanobori, Takeshi

× Sawanobori, Takeshi

en Sawanobori, Takeshi

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Ogita, Yo-ichiro

× Ogita, Yo-ichiro

en Ogita, Yo-ichiro

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抄録
内容記述タイプ Abstract
内容記述 The pulse photoconductivity amplitude (PPCA) technique with blue laser carrier excitation is proposed
for characterizing subsurface property in Si wafers.T he PPCA signals is concluded to malce possible to
characterize subsurface damages introduced by mirror polishing, from the discussion of the correlation
between micro roughness dependence ofP PCA, initial carrier lifetime,a nd heavy metals contamination.
言語 en
書誌情報 神奈川工科大学研究報告.B,理工学編

巻 22, p. 67-71, 発行日 1998-03-20
出版者
出版者 神奈川工科大学
ISSN
収録物識別子タイプ PISSN
収録物識別子 09161902
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN10074179
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
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Ver.1 2023-05-15 15:07:36.403755
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